aivfo-tl-3.0/ivf_tl_operate_2.0/control/IvfTl.Hardware.HilTests

IvfTl.Hardware.HilTests — 硬件在环(HIL)回归套件

把合并改造遗留 M 区真机验证的检查逻辑沉淀为永久入库的回归用例,防止这些修复以后被改回去。 经真实 IvfTl.Hardware.Impl.SerialChannelImpl 端到端连真舱(与去桩后 control 走同一路径)。

守护什么

测试	守护缺陷	类型	断言
FocusZeroHilTests	M-06 按 well 焦点零点	纯读 0x11,无电机	各 well 读值去重>1(证按 well 分槽,非恒读 well-1);值落在安全 Z 区间 [0,125000]
FrameLengthHilTests	M-05 0x12 写 E方回包帧长(=12)修复	纯读(连读不写)	连续读 12 轮全部 sane 非负(帧长错会致残留字节污染读)
EepromWriteHilTests	M-01/02/03 EEPROM 写命令真下发	写回环(非破坏)	默认 Skip;读 V→写 V+1→读==V+1→写回 V→读==V(立即恢复原值)

帧长表本身另由 ivf_tl_SerialHelper.Tests/CustomProtocolLengthTests(纯逻辑单测)逐项锁死;本套件守护真机端到端行为。

怎么跑

前提:control 未运行、operate 未运行(否则串口被占,测试会 Skip 而非真验证)。

# 默认:零写入(只跑两个纯读测试 + 写测试 Skip)
dotnet test ivf_tl_operate_2.0/control/IvfTl.Hardware.HilTests/IvfTl.Hardware.HilTests.csproj -c Debug

# 开写回环(写 EEPROM 后立即恢复原值,非破坏)
HIL_ALLOW_WRITE=1 dotnet test ivf_tl_operate_2.0/control/IvfTl.Hardware.HilTests/IvfTl.Hardware.HilTests.csproj -c Debug

详细输出加 --logger "console;verbosity=detailed" 看每 well 值/写读回值。

Skip 语义(诚实,不伪绿)

• 无响应真舱(无硬件 / control 占口 / 未连接)→ 全部 Skipped,常规 dotnet test/CI 永绿。
• 写测试默认 Skipped,需 HIL_ALLOW_WRITE=1 才跑。
• 某项在所选舱不存在(如某舱无灯光)→ 自动逐舱试,全舱都无才 Skip。

安全口径

• 默认运行零写入,只读 EEPROM。
• 写回环每次写后立即恢复原值,设备状态不变(已真机验证非破坏)。
• 全程不动任何电机,仅 EEPROM 读写。

设计/计划

• 设计:项目文档/需求文档/specs/2026-06-23-HIL硬件在环回归套件-design.md
• 实现计划:项目文档/开发计划/2026-06-23-HIL硬件在环回归套件实现计划.md